AES-8000 AC/DC アーク放射分光計
典型的なアプリケーション
1. 地質サンプル中の Ag、Sn、B、Mo、Pb、Zn、Ni、Cu およびその他の元素の同時測定;また、地質サンプル中の微量貴金属元素の検出にも使用できます (分離および濃縮後)。
2. 高純度金属および高純度酸化物、タングステン、モリブデン、コバルト、ニッケル、テルル、ビスマス、インジウム、タンタル、ニオブなどの粉末サンプル中の数個から数十個の不純物元素の測定。
3.セラミック、ガラス、石炭灰などの不溶性粉末サンプル中の微量および微量元素の分析。
地球化学探査試料の分析支援プログラムとして欠かせないものの一つ
高純度物質中の夾雑成分の検出に最適
特徴
効率的な光学イメージング システム
Ebert-Fastic 光学システムと 3 レンズ光路を採用して、迷光を効果的に除去し、ハローと色収差を除去し、バックグラウンドを低減し、集光能力を高め、優れた解像度、均一なスペクトル線品質を実現し、1 つの光路を完全に継承します。 -メートル格子スペクトログラフ 利点。
- コンパクトな光学構造と高感度。
- 良好な画質、まっすぐな焦点面。
- 逆線分散率 0.64nm/mm;
- 理論上のスペクトル分解能は 0.003nm (300nm) です。
高性能リニアアレイCMOSセンサーと高速取得システム
- 紫外線に敏感なCMOSセンサー、高感度、広いダイナミックレンジ、小さな温度ドリフトを使用。コーティングの必要がなく、デバイス スペクトルのブロードニング効果がなく、フィルムの経年変化の問題もありません。
- FPGA技術に基づく高速マルチCMOS同期取得およびデータ処理システムは、分析元素スペクトル線の自動測定を完了するだけでなく、同期スペクトル線の自動キャリブレーションおよび自動バックグラウンド減算の機能も実現します
ACおよびDCアーク励起光源
交流アークと直流アークの切り替えに便利です。テストするさまざまなサンプルに応じて、適切な励起モードを選択すると、分析とテスト結果を改善するのに役立ちます。非導電性サンプルの場合は AC モードを選択し、導電性サンプルの場合は DC モードを選択します。
電極の自動位置合わせ
ソフトウェアのパラメータ設定により、上下の電極が自動的に所定の位置に移動し、加振完了後、電極の脱着を行うため、操作が簡単で位置合わせ精度が高い。
見やすい窓
特許取得済みの電極イメージング投影技術は、装置の前にある観察ウィンドウにすべての励起プロセスを表示します。これは、ユーザーが励起チャンバー内のサンプルの励起を観察するのに便利であり、サンプルの特性と励起挙動を理解するのに役立ちます.
強力な分析ソフトウェア
- 機器のドリフトの影響を排除するためのスペクトル線のリアルタイム自動キャリブレーション。
- バックグラウンドは、人的要因の干渉を減らすために自動的に差し引かれます。
- スペクトル線分離アルゴリズムにより、スペクトル干渉の影響を減らします。
- マルチスペクトル判定の自動切り替えにより、検出内容の幅が広がります。
- 2 つのフィッティング方法を組み合わせることで、サンプル分析の精度が向上します。
- スペクトル線情報が豊富で、分析の応用範囲が広がります。
- さまざまなサンプル試験要件に適した特別な分析ソフトウェア。
- 便利なデータ後処理機能により、実験プロセスが短縮され、データ処理がより柔軟になります
安全保護
- 電極クリップの冷却循環水流監視により、電極クリップの高温燃焼を回避できます。
- オペレーターの安全を守るために、チャンバー ドアの安全インターロックを有効にします。
パラメーター
| 光路形状 | 上下対称Ebert-Fastic型 | 現在の範囲 | 2~20A(AC) 2~15A(DC) |
| 平面格子線 | 2400個/mm | 励起光源 | AC/DC アーク |
| 光路焦点距離 | 600mm | 重さ | 約180Kg |
| 理論スペクトル | 0.003nm（300nm） | 寸法 (mm) | 1500(L)×820(W)×650(H) |
| 解決 | 0.64nm/mm (ファーストクラス) | 分光チャンバーの温度一定 | 35℃±0.1℃ |
| 立ち下がり線分散比 | 高性能CMOSセンサー用FPGA技術に基づく同期高速取得システム | 環境条件 | 室温15℃～30℃ 相対湿度<80% |